在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
一、RAM测试方法回顾
方法1:一种测试系统RAM的方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。
方法2:方法1并不能完全检查出RAM的错误,在参考文献中分析介绍了一种进行RAM检测的标准算法MARCH-G。MARCH一G算法能够提供非常出色的故障覆盖率,但是所需要的测试时间是很大的。MARCH-G算法需要对全地址空间遍历3次。设地址线为”根,则CPU需对RAM访问6×2n次。
Keithley 590 w/option 100KHz C-V Analyzer NICE
SVG 914252-002 912850-001 Cambridge Hi-Temp Belt
MECS UTW-3100P UTW-3000 CS-1000 Robot Controller
MECS UTW-3100P UTW3100P Wafer Handling Robot
Newport 300 mm 12 in Motorized Linear Stage TS300DC ESP
HP Agilent 16751A Logic Analyzer Module
AVT Oscar F-810C 8MPixel Color CCD camera
Olympus LMPlanApo 150x/0.90 BD inf/0 Objective *NICE*
Optimag Olympus EP004 Hi-resolution Camera