位测试功能块用于测试位串中的某一位是 1 或 0，测试结果存入输出 Q 中。 每次扫描时当测试功能块得电, 输出 Q 状态与测试的位的状态相同。如果 用于测试位数的为寄存器变量而不是常数，那么每次扫描时同一功能块 将可对不同的位进行测试。如果测试位数 BIT 超出范围 (1 < BIT < (16 * length) ), 那么输出 Q 为 OFF。 位测试功能支持长 256 个字的位串。Move 功能用于以位的形式从某处拷贝数据至另一处。因为数据以位的格式拷 贝，因此目的地的数据类型可以与源地址的数据类型不同。 Move 功能执行时，它将输入参数 IN 的数据 按位拷贝至输出参数 Q 中。如果 数据是从离散内存的一个区域移到另一个，（例如，从％I 移到％T）,无论 MOVE 指令执行是否引起离散内存变量改变状态,该离散变量的跳变信息也将 被刷新。输入数据不会改变，除非源地址和目标地址重叠。
FANUC AOA05E A03B-0807-C157
FANUC AODC16C A03-807-C153
Cincinnati 10 R Plain Grinder Manual
Landis 2R Plain Grinder Parts Manual
Bryant 1309-W Internal Grinder Manual
Bryant 1316 Internal Grinder Manual
MAttison Hanchett Type Grinder MANUAL
Bullard DYN AU TApe 2-Speed Headstock Parts
